第四屆長余輝與光激勵發光國際研討會(2018)于2018年4月4日-8日在北京航空航天大學舉行，北京精微高博科學技術有限公司攜BET物理吸附儀亮相。
大會現場
JW-BK200C是一款研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，是JW-BK200系列中的一款暢銷產品，測試結果準確性、精確性、穩定性完全達到國際先進水平。非常適合活性炭、活性氧化鋁、分子篩、沸石、MOF材料等超微孔納米粉體材料的研究。精微高博產品還包括JW-BK100系列、JW-BK300系列、JW-BK400系列等不同型號比表面及孔徑分析儀。
最近幾年長余輝與光激勵發光材料發展迅速，并廣泛應用于各個領域如照明、顯示、安全、防偽、傳感、生物成像、醫學、能源等。本會議的主要目的是報道和研討發光材料最新的實驗和理論進展，展望未來的發展方向。另外，本次會議將促進和加強研究人員之間及學術界與企業界的合作。對參加會議的學生也能起到培養作用。
本次會議的議題：
* 新型發光材料及制備方法
* 光譜表征方法例如光致發光譜、熱釋發光譜等。
* 結構、缺陷和性能表征方法
* 能量傳遞過程
* 晶體結構、電子結構、荷電/捕獲/發光等的計算機模擬
* 納米發光材料
* 固態照明、顯示和能量轉換中的應用
* 生物成像、細胞標記、抗癌、藥物輸運/釋放等應用
* 傳感、安全、隱身、輻射探測等方面的應用
關于精微高博：
北京精微高博科學技術有限公司被譽為“中國氮吸附儀的開拓者”，在國內率先研發成功動態全自動比表面儀、BET比表面儀、階梯法動態比表面儀、単氣路常壓孔徑分析儀、靜態容量法介孔分析儀、靜態四站比表面測定儀、高性能靜態微孔分析儀、氣體法真密度儀、高壓吸附儀等。隨著JWGB（精微高博）產品在全球市場知名度的提升，我們期待精微高博國際市場也將越做越大。了解更多，請登錄www.jwgb.net或致電400-600-5039
