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2010年9月27-29日，北京精微高博科學技術有限公司閃亮登場中國顆粒學會唯一主辦的粉體/ 散裝行業盛會—IPB 2010 第八屆國際粉體工業/散裝技術展覽會暨會議，展位號1520。此次盛會主要展示了自主研發的全套JW系列（流動色譜法和靜態容量法）比表面及孔隙度分析儀，以及組成儀器的關鍵零部件。
  JW系列動態智能化比表面儀，尤其JW-DA型，是目前國內最先進的動態比表面儀，智能化、精度高、速度快、性能穩，特別適合于電池材料和小比表面材料的測定。此款儀器不但在精美的外觀工藝設計上吸引了眾多客戶眼球，而且更重要的是在性能技術參數上不斷受到客戶的嘖嘖稱贊。
  靜態容量法比表面及孔徑分析儀在測試范圍和測試精度上趨近國際水平，部分指標已趕超國際先進水平。作為中國比表面及孔徑分析儀的最權威專業生產商，北京精微高博具有獨立的自主知識產權，獨有國內領先技術和高精密分析儀，會一如既往的在物性技術研究領域開拓創新，不斷推進分析儀在各行業中的廣泛應用。