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HORIBA顯微光譜測量系統MicOS
報價:面議
品牌: HORIBA
產地: 上海
關注度: 2279
型號: MicOS
核心參數

測量范圍:200 nm~1600nm

分辨率:0.18nm

儀器原理:其他

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產品介紹

詳細信息:
        HORIBA Scientific新研發的MicOS顯微光譜系統,可提供完整的顯微光譜測量解決方案,它主要包括一個直接與光譜儀耦合的顯微探測頭和一個高性能三光柵成像光譜儀,該光譜儀多可同時接三個探測器。

1、是顯微水平光致發光、電致發光和光調制反射光譜研究的理想選擇。

2、覆蓋200nm~1600nm的寬光譜范圍,可廣泛應用于各類材料的測量,如半導體和生物樣品等。

3、獨特的內置數碼相機設計,可以實時觀察樣品。

4、可提供物鏡朝下或物鏡側向的兩種配置選擇,便于測量放置在正置低溫恒溫器中的樣品。

5、能與多種激光波長匹配,擁有強的靈活性,并且易于操作。

6、采用享有盛譽的LabSpec軟件控制整個系統。

技術參數:

光譜儀型號iHR320 iHR550
光譜范圍1200 nm~1600nm
光譜分辨率20.18nm 0.1nm
探測器類型CCD 1024 x 256 OE3IGA 512 x 25Single Channel
光譜范圍200nm~1050nm800nm~ 1600nm190nm~1600nm4
激發波長5532nm633nm785nm
顯微鏡物鏡放大倍數10x50x100x
光斑大小100um<20um<10um
樣品臺XYZ(手動或自動可選)

與物鏡,濾光片和探測器選擇有關
采用1200g/mm光柵和開放電CCD探測器
BIUV, BIVS, BIDD 等探測器可選
覆蓋此光譜范圍需要兩個探測器
如需其他可選配置,請與我們聯系


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HORIBA(中國)為您提供HORIBA顯微光譜測量系統MicOS,HORIBA顯微光譜測量系統MicOS產地為上海,屬于光譜檢測分析儀,除了HORIBA顯微光譜測量系統MicOS的參數、價格、型號、原理等信息外,還可為您提供HORIBA 高頻紅外碳硫分析儀EMIA-Pro、HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列、HORIBA粒徑分析儀LA-960,HORIBA客服電話400-810-00699287,售前、售后均可聯系。
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