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金埃譜公司受邀參加中國顆粒學會第七屆學術年會
2010年8月15-18日,中國顆粒學會第七屆年會在西安舉行,作為新一屆行業盛會,將匯集400多位專家學者、工程技術人員及企業界代表參加。
北京金埃譜科技公司總經理夏攀受邀將在“顆粒測試與應用”論壇做《比表面及孔徑分析技術在粉體行業中的應用》的主題發言。
欲了解更多相關信息請致電我公司或在論壇現場與夏攀總經理做進一步交流。
國儀精測 2010-08-11 | 閱讀:3083
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