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9月22日至24日，由美國食品藥品管理局（FDA）與復雜仿制藥研究中心（CRCG）聯合舉辦的“掌握顆粒粒度分析：技術與最佳實踐的逐步解析”研討會在美國馬里蘭州Shady Grove大學順利召開。作為制藥領域顆粒分析的重要會議，本次研討會僅邀請7家國際領先的顆粒分析儀器制造商參與，聚焦制藥研發與質量控制中的關鍵技術議題。百特儀器作為唯一受邀的中國制造商，在會議上展示了在顆粒表征領域的技術實力與創新成果。

百特美國團隊的兩位專家在會議上發表了專題報告：Kiwan Park分享了《為何將激光衍射與圖像分析結合，正在成為顆粒表征的新標準》，Matthew McGann則圍繞《DLS、SLS與ELS技術數據質量研究》展開深入解析。兩場報告內容詳實、視角前沿，不僅受到現場專家的高度關注，也充分展現了百特在微米級和納米級顆粒表征方面的技術積累與應用能力。

會議期間，百特與來自FDA、全球知名制藥企業及科研機構的專家進行了深入交流，共同探討制藥領域顆粒分析的前沿趨勢與實踐經驗。通過此次參會，百特進一步提升了在國際制藥領域的影響力，也讓更多行業伙伴認識到中國儀器制造企業的創新能力。

百特衷心感謝FDA與CRCG對本次研討會的精心組織，也感謝每一位與會嘉賓的積極參與和熱烈交流。未來，百特將繼續秉持“持續創新、精益求精”的理念，為全球科研及制藥行業提供更精準、更可靠的顆粒分析解決方案。