 Eyetech |
參考報價：電議 型號：Eyetech
產地：荷蘭 在線咨詢
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顆粒圖像分析儀EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經驗，為各種應用引入了滿足各種不同應用需求的粒徑粒形分析方法。
激光粒度粒形分析儀
測量原理
粒徑分析 (PSA)
EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法（LOT）。這是一種針對旋轉的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續時間來計算。這免除了其它分析技術所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。
EyeTech 激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復性。我們激光方法在600個不連續的時間間隔進行粒徑測量，得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數、粘度變化、布朗運動、熱傳導和其它物理現象的影響。
動態粒形分析 (DSC)
動態粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數字圖像并分析大量形狀參數。動態顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態流動過程中，可以連續捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監測。大量圖片被放大、處理和自動分析，確保結果具有充分的代表性。圖像和統計數據都可以打印或儲存，作為樣品記錄。
激光粒度粒形分析儀
特別特征
模塊化設計
可互換的測量池模塊能夠分析各種狀態的顆粒，液體、粉末、氣溶膠、膏狀、薄膜和乳劑。還有特別的測量池用于高濃度樣品測量。采用基于工業P4 電腦開發的ACU，模塊化的EyeTech可以被很方便地整合到任何實驗室。
高速度
EyeTech的粒徑分析速度非常快。EyeTech用了一種特別快速的掃描和分析裝置。低濃度的顆粒能夠在30秒之內測好。
寬范圍
激光通道可以測定0.1到2000 μm 的顆粒。使用動態高速視頻通道，可以在幾分鐘內測量成千上萬顆顆粒的圖像，粒徑從2μm~3600μm。動態粒形分析能夠獲得高質量的、高對比度的圖像，能夠定義和測量低對比度的目標。
樣品分析測量池和樣品分散裝置
EyeTech具有大量自動化的耐用的樣品分析測量池和樣品分散裝置，可以根據具體要求，測量各種不同的濕樣和干的樣品。
主要技術特點：
直接對每個顆粒進行測量得到顆粒分布，不是根據其他二級特性推算出來的顆粒分布;
不會因為樣品折射指數、粘度變化、布朗運動和熱對流等不確定因素引起測量誤差;
分析結果不依于賴顆粒或分散介質的光學特性，可以測量高折射率顆粒、透明顆粒、半透明顆粒以及混合材料顆粒;
多種測量池，適合進行各種樣品干態、濕態分析
自動校準，免校正和標定;
高分辨率、可重復性和寬動態范圍;
提供弗雷特（Feret）直徑、面積、周長、形狀因子、長細比、凹凸度、橢圓度等等40個顆粒粒度和粒形參數;
“眼見為實” ― 我們獨特的視頻通道除了能夠進行粒形分析，還可以給您測量顆粒的實時動態圖像Video顯示。
特有的顆粒信息數據庫功能，每個顆粒的圖像和粒形信息都存儲在數據庫里，方便查閱、比較和檢索
測量池具體配置
ACM-101 電磁擾動測量池
ACM-102機械擾動測量池
ACM-104A 流動式液體測量池
ACM-108微流量測量池
ACM-110顯微鏡載片測量池
ACM-112自由落體式測量池
ACM-106 氣溶膠測量池
ACM-111 溫控測量池
