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產品簡介：

電子半導體圖像法清潔度分析系統是普勒新世紀實驗按照普洛帝分析儀器事業部的規劃，于2001年推向市場的成熟系統儀器；

觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數量、大小、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段；

電子半導體圖像法清潔度分析系統為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、圖像測試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺、圖像法顆粒分析系統軟件、電腦、打印機等部分組成；為科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段。

產品應用：

航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、半導體、工程機械、液壓系統等領域；

對各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續相測試）。

執行標準：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。

可根據客戶要求，植入相應“圖像法顆粒度”測試和評判標準。

技術參數：

產品型號：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類液體檢測要求；

測試范圍:  1μm-500μm

放大倍數：40X～l000X倍   

zui大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數字攝像頭(CCD)：500萬~1800萬像素

分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

自動分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運行環境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精 確 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售后服務：普洛帝中國服務中心/普研檢測。