Pascal(TOFLAS)
原子散亂表面分析儀器
尖端技術 : 表面分析 & 元素分析
絕緣材料結晶表面分析
極性表面的極圖分析
*表面數層非常靈敏，浮動狀態的電力類樣品也可以分析
表面結構可視覺直觀評估
完全不受電場和磁場影響in-situ 分析
單一原子層或結晶尺度的成長監測
薄膜， 超薄膜， 單層薄膜， 石墨烯 …等絕緣， 半導體 & 金屬
