原FEI公司，2016年被賽默飛世爾科技收購，成為賽默飛材料與結構分析（MSD) 電鏡事業部，是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM，透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam?FIB-SEM，結合先進的軟件套件，運用*廣泛的樣本類型，通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合，使客戶的問題變成有效可用的數據。
