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布魯克納米表面儀器部(Bruker Nano Surfaces)
  • 參考報價:電議
    型號:
    產地:美國
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  • 詳細介紹:


    ContourGT-I 三維光學顯微鏡

    全球首創的掃描頭傾斜自動樣品臺桌面型測量系統

    ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成,將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面型系統上,實現面向生產自動化需要,測量角度靈活,優秀的成像質量,和已經驗證的可定標的穩定測試性能。通過布魯克獨有的掃描頭傾斜技術,該系統可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化,從而輕松實現在一定角度內自動傾斜對表面特征進行測量。**一代的Vision64™ 軟件結合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性,更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品,在桌面型系統上實現了以往從未有過的各種特性。

    實現更快,更簡便測量

    ? 自動光學傾斜測量頭

    ? 全自動X,Y, Z樣品臺

    ? 自動光鏡轉塔,放大鏡,和測試光選擇

    更靈活而穩定的防震

    ? 集成式充氣式防震臺

    ? 高穩定度,空間節省

    更強大的測量和分析

    ? 簡單明了,人性化的工作流程

    ? 實時自動優化測量

    ? 完整的數據分析軟件包

    ? 可定制的分析報告

    測量高效

    布魯克獨有的傾斜測量頭為用戶提供了極大的靈活性,實現快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結合頭部傾斜功能,布魯克這一技術實現了將觀察位置始終保持在焦平面處,為用戶實際使用時帶來了很大便利。

    準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的,這樣在批量測試時速度也大大提高。

    臺階高度準確性

    這一特點結合樣品臺與物鏡的電動控制使得Contour GT-I 成為了具有較小占地卻能同時滿足多種測試要求的測量平臺。

    業界*方便靈活的測量方式

    除上述優點外,ContourGT-I通過獨有的設計直接在機臺上集成防震系統,使其直接滿足各種環境條件,包括工廠,實現迅速準確地測量。

    這一經過嚴格測試的防震系統為用戶提供不折不扣

    的優化測試條件,從而得到重復性**的定量數據。

    布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯

    Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 歡迎訂閱優酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻,觀看**的AFM產品和相關技術進展,以及歷屆網絡研討會和培訓資料,精彩內容持續更新中!

    布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces

    北京辦公室北京市海淀區中關村南大街 11號光大國信大廈6 6218

    上海辦公室上海市徐匯區漕河涇開發區桂平路 418號新園科技廣場 19

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