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參考報價：電議 型號：
產(chǎn)地：美國 在線咨詢
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全自動X光沉降粒度分析儀SediGraph III PLUS
SediGraph®Ⅲ Plus全自動X光沉降粒度分析儀 |
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
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在過去的四十多年中，美國麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗(yàn)室，SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結(jié)果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。
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SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護(hù)更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性極高的結(jié)果。
• 簡化泵系統(tǒng)，確保快速分析和易于維護(hù)
• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境
• 維護(hù)提醒裝置，根據(jù)總測試量，提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)
• 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復(fù)性
• Windows操作軟件，以太網(wǎng)連接，可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單，聯(lián)網(wǎng)工作，打印機(jī)選擇，剪切和粘貼等操作
• 多功能和交互式報告系統(tǒng)，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）
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