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平坦度測量儀
報價：面議
| 品牌： | 上海翱晶 |
| 產地： | 上海 |
| 關注度： | 1236 |
| 型號： | 平坦度測量儀 |
產品介紹
平坦度測量儀FT-900
測量晶片或磁盤等的翹曲、平坦度的設備
·可測量直徑不超過200mm的樣品。
·可對半導體晶片（硅、化合物、氧化物、玻璃）、硬盤驅動器上使用的磁盤（鋁、玻璃）、
工業用金屬片、任意形狀的樣品進行測量。
·無論樣品為粗糙表面或光滑表面、透明物體或者樣品上有開孔、形狀不規則，都可以進行測量。
·通過相移法對激光斜入射干涉計產生的干涉條紋進行圖像分析，以此實現對多種樣品的數據測量。
問商家
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上海翱晶半導體科技有限公司為您提供上海翱晶平坦度測量儀，平坦度測量儀產地為上海，屬于測量/計量儀器，除了平坦度測量儀的參數、價格、型號、原理等信息外，還可為您提供碳化硅（SiC）外延爐、高精度全自動減薄機、半導體晶片倒角機。
工商信息
企業名稱
上海翱晶半導體科技有限公司
企業類型
信用代碼
91310000MA1GM0HX1J
法人代表
注冊地址
成立日期
注冊資本
有效期限
經營范圍
