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Mars 4400半導體檢測設備
報價:面議
品牌: 中電科風華
產地: 山西
關注度: 586
型號: Mars 4400
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產品介紹

產品描述:SiC晶圓腐蝕后的位錯檢測設備。設備采用微分干涉相差的光學顯微成像技術,可進行全片掃描并采集完整數據,計算并自動統計位錯數量與密度,生成位錯密度圖。

產品參數:

應用范圍:SiC襯底切割片、研磨片、拋光片的位錯檢測分析(經KOH腐蝕)

可測晶片尺寸:標準4,6,8英寸及其它非標尺寸

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中電科風華信息裝備股份有限公司為您提供中電科風華Mars 4400半導體檢測設備,Mars 4400半導體檢測設備產地為山西,屬于測量/計量儀器,除了Mars 4400半導體檢測設備的參數、價格、型號、原理等信息外,還可為您提供PDI-10半導體檢測設備、全自動汽車B柱貼合組裝生產線、3D-Lami 全自動曲面貼合生產線。
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企業名稱

中電科風華信息裝備股份有限公司

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9114000071360658X8

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