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檢測和分析碳化硅外延表面缺陷
報價：面議
| 品牌： | 中科匯珠 |
| 產地： | 廣東 |
| 關注度： | 460 |
| 型號： | 檢測和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶體缺陷 |
產品介紹
技術參數:
1)微分干涉鏡頭:532 nm波段光源
2)暗場鏡頭:457nm波段光源
3)PL鏡頭:313波段光源
4)PLX鏡頭:355波段光源
5)自動聚焦測量范圍:+1.5mm
6)XYZ平臺:移動范圍550*400*5(XYZ)，重復定位精度0.1um，測量精度:±0.5um
7)重復性:CV<5%
8)致命缺陷測試準確性:>95%
問商家
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東莞市中科匯珠半導體有限公司為您提供中科匯珠檢測和分析碳化硅外延表面缺陷，檢測和分析碳化硅外延表面缺陷產地為廣東，屬于測量/計量儀器，除了檢測和分析碳化硅外延表面缺陷的參數、價格、型號、原理等信息外，還可為您提供SiC晶圓表面載流子濃度檢測、n/p交替多層外延、液相法4H-p型襯底和3C襯底外延。
工商信息
企業名稱
東莞市中科匯珠半導體有限公司
企業類型
信用代碼
91441900MA55G4XT6K
法人代表
注冊地址
成立日期
注冊資本
有效期限
經營范圍
